Page 26 - Revista Fundição & Matérias-Primas

GUIA ABIFA DE CONTROLE DA QUALIDADE

Marteletes (laboratório) Micrômetro interno Holtest Enila (RP)
Além Mar (D, R, RP) Enila (R) Hikotech (RP)
Enila (P) Insize do Brasil (P) PCientífica (RP)
Tecnofund (P) Solotest (R) Spectro Sul (RP)
ZAF (RP)
Medição por coordenadas CNC Micrômetro interno tubular
– Equipamento Enila (R) Paquímetro analógico e digital
Métrica Latino Americana (R, RP) Insize do Brasil (P) Enila (R)
Insize do Brasil (P)
Medição por coordenadas Microscópio eletrônico de Solotest (R)
normal – Equipamento varredura
Enila (D) Altmann (RP) Partículas magnéticas visíveis
Métrica Latino Americana (R, RP) ZAF (RP) BC END (R)
Enila (R)
Medidor de espessura com Microscópio infravermelho Metal-Chek do Brasil (P, D, R, RP)
relógio Altmann (RP) Metaltec (P, D, R, RP)
BC END (D) Serv-End (P)
Enila (R) Microscópio óptico de bancada
Insize do Brasil (P) e portátil Permeâmetro
Ometto (D, R, RP) Enila (D, P) Enila (P)
Solotest (R) Insize do Brasil (P) Solotest (P)
Leco Instrumentos (D, R, RP)
Quality Control (RP) Tecnofund (P)
Medidor de espessura digital
BC END (D) Risitec (D) Projetor de perfil
Teclago (R)
Enila (R) Enila (D)
Hikotech (RP) Moldabilidade – Equipamento Insize do Brasil (P)

Insize do Brasil (P) Enila (P) Risitec (D)
Metaltec (P, D, R, RP) Solotest (P)
Ometto (D, R, RP) Tecnofund (P) Raio X – Aparelho estacionário
Polimeter (D, RP) Enila (RP)
Raimeck (RP) Multímetro Hikotech (RP)
Roland Eletronic (P) Enila (D) Julio Verne (P, D, R, RP)
Solotest (R) Insize do Brasil (P) Metaltec (P, D, R, RP)
Solotest (R) NDB Vision (D, R, RP)
Micrômetro externo analógico Yokogawa (P) Raimeck (RP)
e digital Spectro Sul (RP)
Enila (R) Padrões para emissão óptica,
Insize do Brasil (P) plasma e raios X Raio X – Aparelho portátil
Solotest (R) BSW (D, R) Anacom Científica (D)

26 FMP, JUNHO 2019